L'électronique dans les systèmes embarqués (aéronautique, spatial, automobile...) se développe de façon très significative apportant sans cesse des performances croissantes permettant aux industriels d'offrir des solutions techniques et économiques concurrentielles. Cette évolution rapide nécessite une remise en cause permanente afin d'assurer la maîtrise du comportement des composants dans des environnements sévères. En particulier, la maîtrise du domaine de la compatibilité électromagnétique (CEM) est un élément clé de la réussite des challenges d'intégration et d'évolution technologique. En outre, avec la réduction technologique vers les dimensions nanométriques, la fiabilité des composants est de plus en plus affectée par des mécanismes de dégradation intrinsèques accélérés par les conditions de fonctionnement sévère (haute/basse température, surcharge électrique, rayonnement).Ces dégradations jouent directement sur les caractéristiques des transistors impactant les fréquences de fonctionnement, le bruit, l'impédance d'entrée ou le courant de fuite et donc inévitablement le comportement électromagnétique du composant.Un nouveau sujet de recherche : robustesse électromagnétique (REM) a été proposé afin d'assurer la « fiabilité électromagnétique » des systèmes embarqués. Le concept est une extension de la compatibilité électromagnétique pour la durée de vie complète du produit.Ce manuscrit présente une méthodologie pour quantifier de l'effet du vieillissement sur la CEM des CI par la mesure et la simulation. Après avoir présenté le contexte général dans un premier chapitre, le deuxième chapitre s'attache à faire un état de l'art de la CEM et des problèmes de fiabilité des CIs. Les résultats expérimentaux de l'évolution du comportement électromagnétique des composants au cours du temps sont présentés dans le troisième chapitre. Ensuite, le quatrième chapitre est dédié à la caractérisation  et la modélisation des mécanismes de dégradation des CIs, Enfin, dans le dernier chapitre, nous proposons un  modèle CEM permettant de prendre en compte l'effet du vieillissement afin de prédire la dérive du niveau de CEM des CIs au cours du temps.