Publication trimestrielle du Laboratoire
d'analyse et d'architecture des systèmes du CNRS
Thèses
Modélisation physique et simulation de défauts étendus et diffusion des dopants dans le Si, SOI et SiGe pour les MOS avancés.
Par BAZIZI El-Mehdi
, le 01 janvier 1970
Analyse et modélisation de l?impact des décharges électrostatiques et des agressions électromagnétiques sur les MEMS RFInvestigation and modeling of the impact of electrostatic discharges on capacitive RF MEMS switches
Par Jinyu Jason RUAN
, le 01 janvier 1970
Analyse en Stabilité et Synthèse de Lois de Commande pour des Systèmes Polynomiaux Saturants
Par Georgio VALMORBIDA
, le 01 janvier 1970
