Une référence de haute stabilité pour les mesures électriques de tension fonctionnant en courant alternatif utilisant un MEMS, système électromécanique utilisé en nanotechnologie, vient d’être démontrée par le LAAS et le LEN, Laboratoire national de métrologie et d’essais. La stabilité de la tension des MEMS a été mesurée sur plus de 150 heures avec une fluctuation inférieure au millionième à 100 kHz. En outre, leur dépendance en température est dix fois inférieure à celle rapportée antérieurement et permet de s’affranchir de plateforme de stabilisation thermique sophistiquée. Ces résultats uniques pourraient donner lieu à de nombreuses applications en métrologie électrique ou pour l’instrumentation de haute précision. La taille microscopique du système permet son application à tous les systèmes embarqués ou mobiles. Son intérêt est également de pouvoir être fabriqué à l’échelle industrielle rapidement et à très faible coût. Un tel dispositif est une première pour le courant alternatif, pourtant très commun dans notre vie quotidienne.