**NEW** Comité d'Orientation stratégique du 30 avril 2024

Le troisième comité d'orientation stratégique a eu lieu au LAAS-CNRS le 30 avril 2024.

Vous pouvez accéder aux présentations en cliquant sur "Read more" puis sur les lien ci-dessous.

Le programme était le suivant :

8h45 : Accueil au LAAS

9h : Présentation de la plateforme

- Moyens et quelques études, Lucas Moreau, LAAS (15 min)
- « Après le GaN et le SiC, quels matériaux pour les composants de puissance, Frédéric Morancho », LAAS (25 min)

  •  GT2 : Filière des Composants de Puissance haute fréquence

- « Études de robustesse et fiabilité haute fréquence pour l'industrie et la recherche ... Construction d'une feuille de route à
long terme », Damien Saugnon et Jean-Guy Tartarin, LAAS (40 min)


10h25 : Pause (15 min)


10h40 : Présentation de la plateforme (suite)

  •  GT3 : Mécanismes de défaillances – Outils

- Moyens et quelques études, Richard Monflier, LAAS (15 min)
- « Cartographie Raman sur composant ; premiers résultats et perspectives pour l'analyse de défauts et de construction »,
David Trémouilles, LAAS (10 min)

- « Développement d'un banc de test pour l'extraction de modèles fréquentiels des composants soumis à de fortes puissances
impulsionnelles sur la base d'un générateur TLP », Fabrice Caignet, LAAS (25 min)


 11h30 : Retours d’expériences de membres fondateurs

 

12h10 : Buffet (1h20 ; repas inclus avec l’invitation)


13h30 : Présentation de la plateforme - étude transverse


« Complémentarité des moyens des équipements de PROOF au travers d’une analyse de cas : LabEx GANEX », Nasri Saïd et
Jean-Guy Tartarin, LAAS (30 min).


14h05 : Visites focalisées de la plateforme PROOF et de la salle blanche du LAAS (en plusieurs groupes ; 2 h)


- Visite de la salle blanche : « Procédés de fabrication de composants de puissance grands gaps au sein de la plateforme
Renatech du LAAS », Josiane Tasselli et Hugues Granier, LAAS.
- « Cartographie Raman assistée par contrôle de focus adaptatif pour l'analyse de construction et de défauts », Richard
Monflier, LAAS
- « Caractérisation de dispositifs TLM sur diamant à haute température et sous vide », Lucas Moreau, LAAS
- « Démonstration du banc automatisé de robustesse haute fréquence pour puce - Application sur un transistor », Damien
Saugnon, LAAS

 

16h10 : Prospectives envisagées et tour de table de fin de journée


17h : Fin de la réunion